Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd.

Ассоциированный русскоязычный журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

О журнале

Наукометрические показатели

Использование
  • 18979Скачивания полных текстов 2020
    Springer измеряет число скачиваний полных текстов с платформы SpringerLink в соответствии со стандартами COUNTER (Counting Online Usage of NeTworked Electronic Resources).
  • 29 Фактор использования 2019/2020
    Фактор использования – это величина, рассчитываемая в соответствии правилами, рекомендуемыми COUNTER. Это среднее значение (медиана) числа скачиваний в 2019/2020 гг. для всех статей, опубликованных онлайн в том же журнале в течение того же периода. Расчет фактора использования основан на данных, соответствующих стандартам COUNTER на платформе SpringerLink.

Влияние
  • 0.56Source Normalized Impact per Paper (SNIP) 2020
    Source Normalized Impact per Paper (SNIP) измеряет контекстную влиятельность журнала по цитированию, путем взвешивания цитирований в каждой предметной группе. Вклад каждого отдельного цитирования тем выше в каждой конкретной предметной категории, чем меньше вероятность (из соображений предметного содержания), что такое цитирование возникнет.
  • Q3Квартиль: Surfaces, Coatings and Films 2020
    Набор журналов из одной предметной категории ранжируются в соответствии с их SJR и делятся на 4 группы, называемые квартилями. Q1 (зеленый) объединяет журналы с наиболее высокими показателями, Q2 (желтый) – следующие за ними, Q3 (оранжевый orange) – третья группа по величине SJR, Q4 (красный) – журналы с наиболее низкими показателями.
  • 0.24 SCImago Journal Rank (SJR) 2020
    SCImago Journal Rank (SJR) – это мера научного влияния журнала, которая учитывает число цитирований, полученных журналом и рейтинг цитирующих журналов.
  • 20Индекс Хирша 2020
    Журнал имеет индекс Хирша, равный h, если он опубликовал h статей, каждая из которой была процитирована в других журналах как минимум h раз. Здесь расчеты индекса основаны на данных Scopus.

SCOPE

Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques  publishes original articles on the topical problems of solid-state physics, materials science, experimental techniques, condensed media, nanostructures, surfaces of thin films, and phase boundaries: geometric and energetical structures of surfaces, the methods of computer simulations; physical and chemical properties and their changes upon radiation and other treatments; the methods of studies of films and surface layers of crystals (XRD, XPS, synchrotron radiation, neutron and electron diffraction, electron microscopic, scanning tunneling microscopic, atomic force microscopic studies, and other methods that provide data on the surfaces and thin films). Articles related to the methods and technics of structure studies are the focus of the journal. The journal accepts manuscripts of regular articles and reviews in English or Russian language from authors of all countries. All manuscripts are peer-reviewed.

Индексирование и реферирование

CNKI, Chemical Abstracts Service (CAS), Dimensions, EBSCO Discovery Service, EI Compendex, Emerging Sources Citation Index, Google Scholar, INIS Atomindex, INSPEC, Institute of Scientific and Technical Information of China, Japanese Science and Technology Agency (JST), Naver, OCLC WorldCat Discovery Service, ProQuest Advanced Technologies & Aerospace Database, ProQuest Central, ProQuest Materials Science and Engineering Database, ProQuest SciTech Premium Collection, ProQuest Technology Collection, ProQuest-ExLibris Primo, ProQuest-ExLibris Summon, SCImago, SCOPUS, Semantic Scholar, TD Net Discovery Service, UGC-CARE List (India).

Адрес и контакты редакции

“Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования”
117342, г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17а, комн. 120
Тел.: +7 (499) 743-00-32
E-mail: surf@crys.ras.ru
Web-site: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/