Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing

Издатель: Allerton Press, Inc.

О журнале

Наукометрические показатели

Использование
  • 4236Скачивания полных текстов 2020
    Springer измеряет число скачиваний полных текстов с платформы SpringerLink в соответствии со стандартами COUNTER (Counting Online Usage of NeTworked Electronic Resources).
  • 14 Фактор использования 2019/2020
    Фактор использования – это величина, рассчитываемая в соответствии правилами, рекомендуемыми COUNTER. Это среднее значение (медиана) числа скачиваний в 2019/2020 гг. для всех статей, опубликованных онлайн в том же журнале в течение того же периода. Расчет фактора использования основан на данных, соответствующих стандартам COUNTER на платформе SpringerLink.

Влияние
  • 0.71Source Normalized Impact per Paper (SNIP) 2020
    Source Normalized Impact per Paper (SNIP) измеряет контекстную влиятельность журнала по цитированию, путем взвешивания цитирований в каждой предметной группе. Вклад каждого отдельного цитирования тем выше в каждой конкретной предметной категории, чем меньше вероятность (из соображений предметного содержания), что такое цитирование возникнет.
  • Q3Квартиль: Electrical and Electronic Engineering 2020
    Набор журналов из одной предметной категории ранжируются в соответствии с их SJR и делятся на 4 группы, называемые квартилями. Q1 (зеленый) объединяет журналы с наиболее высокими показателями, Q2 (желтый) – следующие за ними, Q3 (оранжевый orange) – третья группа по величине SJR, Q4 (красный) – журналы с наиболее низкими показателями.
  • 0.22 SCImago Journal Rank (SJR) 2020
    SCImago Journal Rank (SJR) – это мера научного влияния журнала, которая учитывает число цитирований, полученных журналом и рейтинг цитирующих журналов.
  • 11Индекс Хирша 2020
    Журнал имеет индекс Хирша, равный h, если он опубликовал h статей, каждая из которой была процитирована в других журналах как минимум h раз. Здесь расчеты индекса основаны на данных Scopus.

SCOPE

Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing  focuses on the following areas: analysis and synthesis of signals and images;automated measurement systems; computational and information-measuring systems; physicotechnical foundations of micro- and optoelectronics; optical information technologies; modelling in physicotechnical research; nanotechnologies in optics and electronics. This journal reports on several growing areas of physical and computer research. From its inception it has covered the design and development of instrumentation and systems for automatic measurement. Its scope has broadened to include automation based on laser and optoelectronic technologies, laser and non-linear optics, new information technologies and problem-oriented computer systems. The journal presents timely results of basic and applied research on solid state physics, optics and holography in applications to computers and measurement techniques; physical aspects of micro- and optoelectronics; optical information technologies, systems and components; laser physics applications; automated measurement systems; automation of scientific R&D and industrial automation; real-time image analysis and synthesis systems; AI methods and systems in scientific research and management; computer networks and data transmission systems; computer-aided VLSI design, and other topics.

Аудитория

The journal is addressed to scientists, aspirants, engineers and students who are interested in the results of fundamental and applied researches in such areas as IT on the basis of current achievements of Physics, Photochemistry, Materials Science, Informatics and Computer technologies.

Индексирование и реферирование

Astrophysics Data System (ADS), CLOCKSS, CNKI, CNPIEC, Dimensions, EBSCO Discovery Service, EI Compendex, Emerging Sources Citation Index, Google Scholar, INIS Atomindex, INSPEC, Japanese Science and Technology Agency (JST), Naver, OCLC WorldCat Discovery Service, Portico, ProQuest-ExLibris Primo, ProQuest-ExLibris Summon, SCImago, SCOPUS, TD Net Discovery Service, UGC-CARE List (India), WTI Frankfurt eG

Адрес и контакты редакции

Автометрия
ИАиЭ СО РАН
630090 Россия, Новосибирск-90, пр-т Ак. Коптюга, 1
Тел.: +7 (383) 330-90-48, +7 (383) 330-79-38
Факс: +7 (383) 330-88-78
E-mail: automr@iae.nsc.su, Malinovsky@iae.nsk.su, shalagin@iae.nsk.su
Web: http://www.iae.nsk.su