Semiconductors

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd.

О журнале

Наукометрические показатели

Использование
  • 46221Скачивания полных текстов 2020
    Springer измеряет число скачиваний полных текстов с платформы SpringerLink в соответствии со стандартами COUNTER (Counting Online Usage of NeTworked Electronic Resources).
  • 46 Фактор использования 2019/2020
    Фактор использования – это величина, рассчитываемая в соответствии правилами, рекомендуемыми COUNTER. Это среднее значение (медиана) числа скачиваний в 2019/2020 гг. для всех статей, опубликованных онлайн в том же журнале в течение того же периода. Расчет фактора использования основан на данных, соответствующих стандартам COUNTER на платформе SpringerLink.

Влияние
  • 0.674 Импакт-фактор 2020
    Импакт-фактор, публикуемый Clarivate Analytics в Journal Citation Reports. Импакт-факторы относятся к предыдущему году.
  • 0.63Source Normalized Impact per Paper (SNIP) 2020
    Source Normalized Impact per Paper (SNIP) измеряет контекстную влиятельность журнала по цитированию, путем взвешивания цитирований в каждой предметной группе. Вклад каждого отдельного цитирования тем выше в каждой конкретной предметной категории, чем меньше вероятность (из соображений предметного содержания), что такое цитирование возникнет.
  • Q3Квартиль: Atomic and Molecular Physics, and Optics 2020
    Набор журналов из одной предметной категории ранжируются в соответствии с их SJR и делятся на 4 группы, называемые квартилями. Q1 (зеленый) объединяет журналы с наиболее высокими показателями, Q2 (желтый) – следующие за ними, Q3 (оранжевый orange) – третья группа по величине SJR, Q4 (красный) – журналы с наиболее низкими показателями.
  • 0.29 SCImago Journal Rank (SJR) 2020
    SCImago Journal Rank (SJR) – это мера научного влияния журнала, которая учитывает число цитирований, полученных журналом и рейтинг цитирующих журналов.
  • 40Индекс Хирша 2020
    Журнал имеет индекс Хирша, равный h, если он опубликовал h статей, каждая из которой была процитирована в других журналах как минимум h раз. Здесь расчеты индекса основаны на данных Scopus.

SCOPE

Semiconductors  is a journal that сovers semiconductor theory, transport phenomena in semiconductors, optics, magnetooptics, and electrooptics of semiconductors, devices based on semiconductors and nanostructures including lasers, semiconductor surface physics, and structural defects in semiconductors.

Индексирование и реферирование

CNKI, Chemical Abstracts Service (CAS), Current Contents Collections / Electronics & Telecommunications Collection, Current Contents/Physical, Chemical and Earth Sciences, Dimensions, EBSCO Academic Search, EBSCO Advanced Placement Source, EBSCO Discovery Service, EBSCO Energy & Power Source, EBSCO Engineering Source, EBSCO STM Source, EBSCO Science & Technology Collection, Gale, Google Scholar, INIS Atomindex, INSPEC, Institute of Scientific and Technical Information of China, Japanese Science and Technology Agency (JST), Journal Citation Reports/Science Edition, Naver, OCLC WorldCat Discovery Service, ProQuest Advanced Technologies & Aerospace Database, ProQuest Central, ProQuest SciTech Premium Collection, ProQuest Technology Collection, ProQuest-ExLibris Primo, ProQuest-ExLibris Summon, SCImago, SCOPUS, Science Citation Index, Science Citation Index Expanded (SciSearch), TD Net Discovery Service, UGC-CARE List (India), WTI Frankfurt eG.

Адрес и контакты редакции

Журнал Физика и Техника полупроводников
ул. Политехническая д. 26, СПб, 194021 Россия
Тел.: +7 (812) 292-71-06
Факс: +7 (812) 297-60-06
E-mail: semicond@mail.ioffe.ru, emtsev@mail.ioffe.ru